紅外激光少子壽命測試儀

紅外激光少子壽命指半導體中非平衡少數(shù)載流子在紅外激光激發(fā)下從產(chǎn)生到復合的平均存活時間。 ?
測試方法
紅外脈沖激光激發(fā)半導體材料，通過微波光電導衰減法（ μ-PCD ）檢測電導率變化，從而推算少子壽命。該方法利用紅外激光產(chǎn)生非平衡載流子，微波探測器檢測其發(fā)射/反射信號的指數(shù)衰減規(guī)律，通過擬合信號得出壽命值。

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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-08-09
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少子壽命是半導體材料和器件的重要參數(shù)。它直接反映了材料的質(zhì)量和器件特性。能夠準確的得到這個參數(shù)，對于半導體器件制造具有重要意義。

少子壽命指少子的平均生存時間，壽命標志少子濃度減少到原值的1/e所經(jīng)歷的時間。對太陽能電池來說，少子壽命越短，電池效率越低。

少子，即少數(shù)載流子，是半導體物理的概念。它相對于多子而言。

半導體材料中有電子和空穴兩種載流子。如果在半導體材料中某種載流子占少數(shù)，導電中起到次要作用，則稱它為少子。如：在N型半導體中，空穴是少數(shù)載流子，電子是多數(shù)載流子；在P型半導體中，空穴是多數(shù)載流子，電子是少數(shù)載流子。紅外脈沖激光激發(fā)半導體材料，通過微波光電導衰減法（ μ-PCD ）檢測電導率變化，從而推算少子壽命。該方法利用紅外激光產(chǎn)生非平衡載流子，微波探測器檢測其發(fā)射/反射信號的指數(shù)衰減規(guī)律，通過擬合信號得出壽命值。