我們相信優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品是信譽的保證！
致力于成為優(yōu)秀的解決方案供應商！
2025-08-28 2024-10-17 2025-03-04 2024-11-29 無損方塊電阻測試儀的優(yōu)勢體現(xiàn)在哪些方面？
2025-03-28 產(chǎn)品中心/ products
晶圓電阻率測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測試儀，少子壽命測試儀，為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控，提供一整套完整測試和解決方案。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-06-26訪 問 量：979
立即咨詢
聯(lián)系電話：
專注于非接觸式半導體計量分析技術(shù)的開發(fā)和生產(chǎn) ，攻克被國外卡脖子技術(shù)。
產(chǎn)品廣泛應用于半導體、光伏、科研以及平板材料測試領(lǐng)域。借助公司*計量分析測試技術(shù)，為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控，提供一整套完整測試和解決方案。
晶圓電阻率測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測試儀，少子壽命測試儀，
一、
晶圓電阻率測試儀
硅片方阻測試儀
渦流法低電阻率分析儀
晶錠電阻率分析儀
樣品尺寸：2"-8"或者16mm×16mm的方形樣品；
遷移率測量范圍：100-20000（cm2/v.sec)；
方塊電阻測量范圍：100-3000（ohm/sq)；
載流子面密度測量范圍：1E11-1E14（cm-2）；
電磁鐵磁場強度：1.0T
探頭線圈直徑：15mm
與我們產(chǎn)生合作，還原您產(chǎn)品藍圖里應有的樣子!
立即聯(lián)系我們
Copyright ©2026 九域半導體科技（蘇州）有限公司 All Rights Reserved 備案號：蘇ICP備2023057191號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸 sitemap.xml
您的位置：
